最新試題
底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
所謂“幻影回波”,是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。
與IIW試塊相比,CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。
縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。
穿透法靈敏度高于脈沖反射法。