最新試題
“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。
利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。
曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。
