最新試題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時,按一條磁痕處理,其長度為兩條磁痕之和加間距。
磁場指示器是用于被檢工件表面磁場方向,有效檢測區(qū)及磁化方法是否正確的一種準確的校驗工具。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:當辯認細小缺陷磁痕時應(yīng)用2~10倍放大鏡進行觀察。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。