判斷題JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí),按一條磁痕處理,其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。
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最新試題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
題型:判斷題
采用濕法時(shí),應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測(cè)面被磁懸液濕潤(rùn)后,再施加磁懸液。
題型:判斷題
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
題型:判斷題
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響,僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn),主要是用來(lái)檢驗(yàn)水磁懸液對(duì)被檢表面的潤(rùn)濕性能,只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻?,才可以開(kāi)始磁粉檢測(cè)。
題型:判斷題