A.試驗(yàn)--改進(jìn)--再試驗(yàn)
B.試驗(yàn)--發(fā)現(xiàn)問題--再試驗(yàn)
C.待延緩改進(jìn)試驗(yàn)--改進(jìn)--再試驗(yàn)
D.可靠性描述
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A.便捷性
B.維修性
C.安全性
D.快速性
A.通過熱設(shè)計(jì)在滿足性能要求下盡可能減少設(shè)備內(nèi)部的熱量
B.通過熱設(shè)計(jì)設(shè)法較少熱阻
C.通過人設(shè)計(jì)能保證設(shè)備在較低溫度條件下,以便減少參數(shù)漂移,保持電性能穩(wěn)定,從而提高可靠性
D.減少設(shè)備的發(fā)熱量
A.盡可能采用優(yōu)先電路的原則#盡可能簡化的原則
B.盡可能采用新研制的電路
C.盡可能選用未定型的電路
A.嚴(yán)格遵守循序漸進(jìn)的原則
B.正確選取頂事件
C.準(zhǔn)確寫出故障事件方框中的說明
D.正確劃分每個(gè)事件方框的故障類型
A.畫出被研究產(chǎn)品的功能簡圖
B.明確產(chǎn)品FMEA的分析層次和基本過程
C.建立一套系統(tǒng)的全面的標(biāo)準(zhǔn)化的表格
D.進(jìn)行數(shù)據(jù)總結(jié)分析
最新試題
在可靠性理論中,()是最基本、最常用的分布,適用于失效率為常數(shù)的情況。
在可靠性研究中,規(guī)定時(shí)間按秒來計(jì)算。
當(dāng)設(shè)備或系統(tǒng)不能完成功能是就稱為失效或者故障。
產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí),因?yàn)楣收系脑?,需要考慮()。
電路與系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)基本原則是()
如已知產(chǎn)品的失效分布函數(shù),則可求出()。
C=A∩B是()
可靠性增長試驗(yàn)的方式有()
對電子設(shè)備進(jìn)行熱設(shè)計(jì)的要求()
在一般網(wǎng)絡(luò)可靠性模型中,用一定函數(shù)式來表示部件的兩態(tài)對系統(tǒng)兩態(tài)的影響,這個(gè)函數(shù)式稱為()。