A.受平均值μ的影響
B.受樣本容量n和概率p的影響
C.適用于僅有兩種可能結(jié)果的情況
D.適用于計(jì)數(shù)型缺陷
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A.把非正態(tài)分布的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成正態(tài)分布的數(shù)據(jù)
B.試圖用多種方法把非正態(tài)分布的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成正態(tài)分布的數(shù)據(jù),并說明哪種轉(zhuǎn)換方式最佳
C.取一套數(shù)據(jù)的單一值的對(duì)數(shù)
D.控制數(shù)據(jù),從而使它們能落在規(guī)范上下限之內(nèi)
A.過程能力指過程滿足規(guī)范的能力
B.可以通過過程能力求得發(fā)生不良的概率
C.計(jì)算過程Cpk時(shí),需過程處于穩(wěn)定狀態(tài)
D.評(píng)估過程能力可以減少變差和成本
在芯片生產(chǎn)過程中,如果芯片上有一個(gè)瑕疵點(diǎn),則被認(rèn)為是一個(gè)缺陷,每個(gè)班次結(jié)束錢抽取10片芯片進(jìn)行檢驗(yàn)。下面是3月份前15個(gè)工作日每天總?cè)毕輸?shù)情況的記錄。請(qǐng)你決定用哪一種控制圖進(jìn)行繪制()
A.P控制圖
B.U控制圖
C.C控制圖
D.NP控制圖
A.92%
B.8%
C.33%
D.84%
A.分析間接修理的損失
B.備件庫存的基準(zhǔn)
C.故障發(fā)生后的反應(yīng)速度
D.維修工技能水平
最新試題
標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)是采用最佳的(),并最好地利用人、機(jī)器、工具和材料去完成工作,然后發(fā)展標(biāo)準(zhǔn)工作流程讓所有人遵守。
關(guān)于波動(dòng)的控制方法,最好的是()
以下哪一項(xiàng)是對(duì)標(biāo)時(shí)要注意的()
要比較兩臺(tái)設(shè)備的壽命,不能用來展示壽命分布中心和波動(dòng)的圖形是()
快速換型中的內(nèi)部時(shí)間指的是()
FMEA作業(yè)是一種常見的風(fēng)險(xiǎn)分析工具,用于分析和研究產(chǎn)品或過程的()
作業(yè)分析時(shí)提高動(dòng)作經(jīng)濟(jì)性的方法包括()
不良質(zhì)量成本與西格瑪水平的關(guān)系是()
()描述一組數(shù)據(jù)的波動(dòng)指標(biāo)有。
下列激發(fā)創(chuàng)意的方法需要研究競爭對(duì)手才能找到證明有效的解決方案是()