單項(xiàng)選擇題垂直線性誤差測(cè)試，使用2.5P20Z直探頭和（）型標(biāo)準(zhǔn)試塊。
A.CS-1-5
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CSK-1A
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1.單項(xiàng)選擇題水平線性誤差測(cè)試，使用2.5P20Z直探頭或（）型標(biāo)準(zhǔn)試塊。
A.CS-1-5
B.TCS-R試塊
C.CS-1試塊
D.CSK-1A
2.單項(xiàng)選擇題垂直線性誤差測(cè)量時(shí)，用增益或衰減器降低參照波的幅度，并依次記下每衰減2dB時(shí)參照波幅度的讀數(shù)，直至衰減（）以上。
A.20dB
B.24dB
C.26dB
D.28dB
3.單項(xiàng)選擇題垂直線性誤差測(cè)量時(shí)，增益或衰減器至少有（）的調(diào)節(jié)余量。
A.20dB
B.30dB
C.35dB
D.40dB
4.單項(xiàng)選擇題超聲探傷系統(tǒng)的組合性能：靈敏度余量用（）測(cè)量。
A.CS-1試塊
B.CSK-1A試塊
C.TCS-R試塊
D.CS-1-5試塊
5.單項(xiàng)選擇題超聲波探傷工作間內(nèi)應(yīng)清潔寬敞、照度適中、通風(fēng)良好、室內(nèi)溫度應(yīng)保持在（）。
A.l0～20℃
B.20～30℃
C.l0～30℃
D.10～40℃
最新試題
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探頭的分辨力（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
題型：判斷題