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雙晶直探頭的最主要用途是()。
A.探測近表面缺陷
B.精確測定缺陷長度
C.精確測定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測
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單項選擇題
國產斜探頭上標出的 K 值是針對檢測()制工件而言的。
A. 鋼
B. 鋁
C. 銅
D. 非金屬
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單項選擇題
單晶直探頭接觸法檢測中,與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出,這是因為()。
A.近場干擾
B.衰減
C.盲區(qū)
D.折射
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