A.K值增大時(shí)，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度不變
B.K值增大時(shí)，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增大
C.K值增大時(shí)，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度減小
D.K值與近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度無(wú)關(guān)
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A.在工件中得到純橫波
B.得到良好的聲束指向性
C.實(shí)現(xiàn)聲束聚焦
D.實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換
A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸
A.K值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B.K值隨電壓的變化而變化
C.K值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對(duì)
A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化
B.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大
C.探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D.探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的減小
A.前后、左右
B.轉(zhuǎn)角
C.環(huán)繞
D.以上都是
最新試題
金具的機(jī)械載荷試驗(yàn)，加載到（），并保持1分鐘，無(wú)永久變形，并在達(dá)到（）金具沒(méi)有破壞，則載荷試驗(yàn)通過(guò)。
中國(guó)電科院的主要職責(zé)包括（）
技術(shù)監(jiān)督工作必須落實(shí)完善的（）機(jī)制。
以下關(guān)于射線檢測(cè)特點(diǎn)的敘述，正確的是（）
螺栓楔負(fù)載實(shí)驗(yàn)的技術(shù)要求為斷裂應(yīng)發(fā)生在（）
光譜分析按結(jié)果準(zhǔn)確性可分為（）
總的來(lái)看，直接數(shù)字成像系統(tǒng)的特點(diǎn)有（）
技術(shù)監(jiān)督辦公室針對(duì)技術(shù)監(jiān)督工作過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的具有（）的問(wèn)題及時(shí)發(fā)布技術(shù)監(jiān)督工作預(yù)警單。
高能X射線照射到物質(zhì)上以后，一般會(huì)出現(xiàn)以下哪幾種X射線（）
采用手持式合金分析儀對(duì)電網(wǎng)材料進(jìn)行光譜分析的主要目的有（）