A.一級(jí)修
B.二級(jí)修
C.三級(jí)修
D.四級(jí)修
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A.軸型
B.軸號(hào)
C.制造年月、單位
D.首末次組裝日期、單位
A.設(shè)備性能不穩(wěn)定不探
B.除銹不徹底不探
C.輪對(duì)收入狀況不明不探
D.探傷系統(tǒng)不穩(wěn)定不探
A.0.7mT
B.7Gs
C.1.0mT
D.10Gs
A.0.7mT
B.7Gs
C.1.0mT
D.10Gs
A.不封閉“○”形磁痕
B.封閉“○”形磁痕
C.不完整“+”字形磁痕
D.“+”字溝槽不清晰
最新試題
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
影響較大的散射線通常來(lái)自()