A.只有埋藏缺陷
B.只有表面開口缺陷
C.各種缺陷,幾乎與指向性無關(guān)
D.只有面積性缺陷
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A.可行性更高
B.定量精度更高
C.檢測(cè)效率更高
D.缺陷定性更準(zhǔn)確
A.缺陷與標(biāo)準(zhǔn)反射體的形狀和表面粗糙度不同
B.工件與標(biāo)準(zhǔn)試塊的表面粗糙度不同,操作時(shí)對(duì)探頭的壓緊力改變
C.缺陷的傾斜角度
D.以不均不會(huì)
A.采用較小的PCS和較窄的波束寬度
B.采用較小的PCS和低的頻率
C.采用較大的PCS和較窄的波束寬度
D.采用較大的PCS和較高的頻率
A.缺陷的長(zhǎng)度
B.缺陷的高度
C.缺陷距焊縫中線的距離
D.缺陷的傾斜角度
A.一次掃查能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍檢測(cè),效率高
B.能同時(shí)得到缺陷長(zhǎng)度和高度數(shù)據(jù)
C.焊縫余高不影響掃查,操作方便
D.定位定量準(zhǔn)確
最新試題
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
影響較大的散射線通常來自()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>