A、清潔
B、防潮
C、防止破損
D、以上都對

A、設備接地
B、按制造廠家的規(guī)定程序訓機
C、用探測儀探測輻射量并測定管制區(qū)
D、以上都對

A、先調(diào)整零點
B、經(jīng)常用已知黑度的底片校準
C、以上都對
D、以上都錯

A、波長變化不完全成比例
B、管電壓和X射線設備的電壓波形隨負載發(fā)生變化
C、電流在線性比率上才能改變
D、散射線不能按比率變化

A、放大
B、變形
C、模糊
D、以上都對

A、射源至試件距離越遠，影像放大得越大
B、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越大，影像放大得越大
C、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越小，影像放大得越大
D、射源至試件的距離與影像放大無關(guān)

A、射源至底片的距離
B、曝光時間
C、KV
D、mA

A、第一次較易檢出缺陷
B、第二次較易檢出缺陷
C、對于缺陷檢出力無法比較
D、以上都對

A、8.5英寸底片三張，雙壁照相單壁看片
B、8.5英寸底片兩張，雙壁照相雙壁看片
C、8.5英寸底片四張，雙壁照相單壁看片
D、12英寸底片三張，雙壁照相單壁看片

A、橢圓投影，至少相隔90°兩次照像，雙壁看片
B、橢圓投影，至少相隔180°兩次照像，雙壁看片
C、一次橢圓投影，雙壁看片
D、以上都可以