A、立方體
B、棱柱體
C、圓柱體
D、圓球體
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A、水凍水融
B、氣凍氣融
C、氣凍水融
D、水凍氣融
A、水凍水融
B、氣凍氣融
C、氣凍水融
D、水凍氣融
A、單面凍融法
B、慢凍法
C、雙面凍融法
D、快凍法
A、小于C60強度等級時為0.95
B、小于C60強度等級時為1.05
C、小于C60強度等級時為0.85
D、不小于C60強度等級時應由試驗確定
A、試驗能否得到有效結果，尚需視折斷面在試件中所處位置而定。
B、同組3個試件測值中，最大值和最小值與中間值的差值均超過中間值的10%時，該組試件的試驗結果無效。
C、同組3個試件測值中，最大值或最小值如有1個且僅有1個與中間值的差值超過中間值的15%時，取中間值作為該組試件的抗折強度值。
D、不總是能把同組3個試件測值的算術平均值作為該組試件的抗折強度值。
最新試題
原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速（）
光子傳感器是利用某些半導體材料在入射光的照下，產(chǎn)生（）.使材料的電學性質發(fā)生變化。通過測量電學性質的變化，可以知道紅外輻射的強弱。光子效應所制成的紅外探測器。
CZ法的主要流程工藝順序正確的是（）
熱處理中氧沉淀的形態(tài)不包括（）
只涉及到大約一個原子大小范圍的晶格缺陷是（）。
一塊半導體壽命τ=15µs，光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子，光照突然停止30µs后，其中非平衡載流子將衰減到原來的（）。
把磷化鎵在氮氣氛中退火，會有氮取代部分的磷，這會在磷化鎵中出現(xiàn)（）。
屬于晶體缺陷中面缺陷的是（）
對于大注入下的直接復合，非平衡載流子的壽命不再是個常數(shù)，它與（）。
如果雜質既有施主的作用又有受主的作用，則這種雜質稱為（）。