A、小數(shù)
B、負(fù)數(shù)
C、常數(shù)
D、對數(shù)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、（Z1Z3）1/2
B、Z1Z3
C、Z1/Z3
D、Z3/Z1
A、r/D＜86%時，用K＝1的探頭
B、r/D≤96%時，用K＝2的探頭
C、r/D≤97.5%時，用K＝2.5的探頭
D、以上都對
A、CL：CS：CR≈1.8：2.0：1
B、CL：CS：CR≈1：1：1
C、CL：CS：CR≈1.8：1.0：0.9
D、CL：CS：CR≈1：2.0：4
A、1/2倍
B、1/4倍
C、2倍
D、4倍
A、第三臨界角
B、第一臨界角
C、第二臨界角
D、半擴(kuò)散角
最新試題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測中硬度檢驗(yàn)是一種（）方法。
當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。
根據(jù)檢測對象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。