A、機(jī)電耦合系數(shù)
B、品質(zhì)因素
C、機(jī)械品質(zhì)因子
D、壓電電壓常數(shù)
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A、小數(shù)
B、負(fù)數(shù)
C、常數(shù)
D、對(duì)數(shù)
A、（Z1Z3）1/2
B、Z1Z3
C、Z1/Z3
D、Z3/Z1
A、r/D＜86%時(shí)，用K＝1的探頭
B、r/D≤96%時(shí)，用K＝2的探頭
C、r/D≤97.5%時(shí)，用K＝2.5的探頭
D、以上都對(duì)
A、CL：CS：CR≈1.8：2.0：1
B、CL：CS：CR≈1：1：1
C、CL：CS：CR≈1.8：1.0：0.9
D、CL：CS：CR≈1：2.0：4
A、1/2倍
B、1/4倍
C、2倍
D、4倍
最新試題
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的（）和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
直接射向缺陷的波就是（）
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。
對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線(xiàn)式掃查。
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為（）mm，峰值波長(zhǎng)為365mm。