A.電源電壓下降超過(guò)10%時(shí),黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動(dòng)超過(guò)10%時(shí),對(duì)人眼損傷較大
C.電源電壓過(guò)低嚴(yán)重影響檢測(cè)靈敏度
D.電源電壓過(guò)高嚴(yán)重影響黑光燈壽命
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A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進(jìn)行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測(cè)用試塊可用于著色滲透檢測(cè)
A.滲透檢測(cè)質(zhì)量分級(jí)考慮到了缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級(jí)既限定了單個(gè)缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線性缺陷顯示
D.評(píng)定框內(nèi)同時(shí)存在線性缺陷和圓形缺陷時(shí),應(yīng)進(jìn)行綜合評(píng)級(jí)
A.干式顯像劑應(yīng)對(duì)其比重進(jìn)行經(jīng)常校驗(yàn)
B.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查粉末凝聚
C.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查殘留熒光
D.干式顯像劑對(duì)工件無(wú)腐蝕
A.A型對(duì)比試塊A、B試塊上具有細(xì)密相對(duì)稱的裂紋圖形
B.A型對(duì)比試塊是淬火裂紋
C.B型試塊是輻射狀裂紋
D.B型試塊的材質(zhì)是鋁合金
A.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試不合格不能簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告
B.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試申請(qǐng)初審由省級(jí)無(wú)損檢測(cè)考委會(huì)負(fù)責(zé)
C.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員跨省變更需國(guó)家質(zhì)檢總局審核批準(zhǔn)
D.Ⅱ級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員資格證由國(guó)家質(zhì)檢總局簽發(fā)
最新試題
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
探頭的分辨力()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()