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多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測方法。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。