A.IIW
B.IIW2
C.RB-1
D.CS-2
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A.5kHz
B.5MHz
C.2.5MHz
D.2.5KMz
A.縱波折射角
B.橫波折射角
C.縱波入射角
D.橫波反射角
A.重復(fù)頻率
B.晶片振動頻率
C.回波頻率
D.電源頻率
A.能更準(zhǔn)確地測量缺陷高度
B.能更準(zhǔn)確地測量缺陷長度
C.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷上表面附近的缺陷
D.更有利于發(fā)現(xiàn)和判斷底面附近的缺陷
A.二次波檢測可以解決焊縫余高過寬影響探頭設(shè)置的困難
B.二次波檢測可以解決直通波盲區(qū)造成的近表面裂紋漏檢
C.二次波檢測以二次反射表面產(chǎn)生的波作為底面波
D.二次波檢測時探頭間距不能太大,以確保回波在底波波型轉(zhuǎn)換之前到達(dá)
最新試題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()