A、同一檢驗批只進(jìn)行一組試驗時，應(yīng)將試驗結(jié)果作為檢驗結(jié)果
B、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最小值作為檢驗結(jié)果
C、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最大值作為檢驗結(jié)果
D、同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗時，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的平均值作為檢驗結(jié)果
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A、對于同一檢驗批只進(jìn)行一組試驗的檢驗項目，應(yīng)將試驗結(jié)果作為檢驗結(jié)果
B、對于同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗的檢驗項目，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最小值作為檢驗結(jié)果
C、對于同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗的檢驗項目，應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最大值作為檢驗結(jié)果
D、對于同一檢驗批進(jìn)行了一組以上試驗的檢驗項目，應(yīng)按不同的性能項目取所有組試驗結(jié)果中的最小值或最大值作為檢驗結(jié)果
A、同一檢驗批砼的強度等級、齡期、生產(chǎn)工藝和配合比應(yīng)相同
B、對于同一工程、同一配合比的砼，檢驗批不應(yīng)少于一個
C、對于同一檢驗批，設(shè)計要求的各個檢驗項目應(yīng)至少完成一組試驗
D、對于同一檢驗批，設(shè)計要求的各個檢驗項目應(yīng)至少完成三組試驗
A、耐久性檢驗評定的項目及其等級應(yīng)根據(jù)施工要求確定
B、對于需要進(jìn)行耐久性檢驗評定的砼，其強度應(yīng)滿足設(shè)計要求
C、耐久性檢驗評定的依據(jù)是《砼強度檢驗評定標(biāo)準(zhǔn)》GB/T50107-2010標(biāo)準(zhǔn)
D、耐久性檢驗評定的項目及其等級應(yīng)根據(jù)設(shè)計要求確定
A、抗氯離子滲透性能
B、劈裂抗拉性能
C、抗碳化性能
D、早期抗裂性能
A、因素分析法
B、統(tǒng)計法
C、加權(quán)比例法
D、非統(tǒng)計法
最新試題
載流子的擴(kuò)散運動產(chǎn)生擴(kuò)散電流，漂移運動產(chǎn)生（）電流。
下列哪個不是單晶常用的晶向（）
對于同時存在一種施主雜質(zhì)和一種受主雜質(zhì)的均勻摻雜的非簡并半導(dǎo)體，在溫度足夠高、ni>>/ND-NA/時，半導(dǎo)體具有（）半導(dǎo)體的導(dǎo)電特性。
下列選項中，對從石英到單晶硅的工藝流程是（）
把磷化鎵在氮氣氛中退火，會有氮取代部分的磷，這會在磷化鎵中出現(xiàn)（）。
光子傳感器是利用某些半導(dǎo)體材料在入射光的照下，產(chǎn)生（）.使材料的電學(xué)性質(zhì)發(fā)生變化。通過測量電學(xué)性質(zhì)的變化，可以知道紅外輻射的強弱。光子效應(yīng)所制成的紅外探測器。
原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速（）
改良西門子法的顯著特點不包括（）
一塊半導(dǎo)體壽命τ=15µs，光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子，光照突然停止30µs后，其中非平衡載流子將衰減到原來的（）。
多晶硅的生產(chǎn)方法主要包含：（）1）冶金法2）硅烷法3）重?fù)焦鑿U料提純法4）西門子改良法5）SiCl4法6）氣液沉淀法7）流化床法