A.提高信號(hào)幅度
B.減少噪聲
C.減少盲區(qū)的影響
D.以上都對(duì)
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A.減少洪水層厚度變化對(duì)圖像的影響
B.提高缺陷深度的測量精度
C.提高缺陷長度的測量精度
D.以上都對(duì)
A.4個(gè)
B.8個(gè)
C.12個(gè)
D.16個(gè)
A.數(shù)字化樣本的間隔是0.01μs,樣本數(shù)量為2000個(gè)
B.數(shù)字化樣本的間隔是0.02μs,樣本數(shù)量為1000個(gè)
C.數(shù)字化樣本的間隔是0.04μs,樣本數(shù)量為800個(gè)
D.數(shù)字化樣本的間隔是0.05μs,樣本數(shù)量為500個(gè)
A.信號(hào)非常弱或探頭距離記錄系統(tǒng)非常遠(yuǎn)時(shí)
B.頻率非常高時(shí)
C.工件厚度非常大時(shí)
D.粗晶材料檢測時(shí)
A.0到255
B.0到1023
C.0到4095
D.0到8192
最新試題
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
影響較大的散射線通常來自()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測的影響包括()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()